QuaNix 4200覆層測厚儀

QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀
1.只需調(diào)零、無需校準(zhǔn) 
2.Fe/NFe兩用探頭 
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀一體化設(shè)計 
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀自動開關(guān)機(jī) 

產(chǎn)品特點及用途 ：

QNix4200P為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層。

只需調(diào)零、無需校準(zhǔn)

Fe探頭；分體式設(shè)計

自動開關(guān)機(jī)

單探頭量程達(dá)3000μm 

主要技術(shù)指標(biāo)：    

產(chǎn)品名稱：QUANIX4200P 涂層測厚儀

基    體：Fe

顯    示：LCD數(shù)字顯示

測量范圍：0－3000μm

測量精度：0－50μm：±1μm，50－1000μm：±1.5；1000－2000μm：±2,2000－3000μm±3

顯示精度：0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm

工作溫度：－10－＋60

溫度補(bǔ)償：0－50

數(shù)據(jù)傳輸：無

統(tǒng)計功能：平均值、大值、小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差

小基體：10mm×10mm

小曲率：凸半徑：5mm，凹半徑：25mm

薄基體：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm

電    源：兩節(jié)5號電池

重    量：110g

尺    寸：110×60×27mm

QuaNix 4200覆層測厚儀